適用標準：

　ISO 105 A11

　　技術參數(shù)：

　　1.波長范圍：400-700nm，10nm間隔

　　2.光源：LED陣列多光譜光源

　　3.光源穩(wěn)定性：8小時測試誤差1%內(nèi)

　　4.LED壽命：大于12000小時

　　5.顏色輸入：彩色相機測量

　　6.成像相機：300萬相數(shù)彩色相機

　　7.輸入接口：成像相機，LED燈箱

　　8.顏色空間：CIELAB，CIELCH，CIELUV，Hunter Lab等

　　9.顏色輸入：相機測量，分光光度計測量，人工輸入XYZ，LAB值和光譜數(shù)據(jù)(反射率)

　　10.顏色參數(shù)：CIELAB顏色空間，CIELUV顏色空間，Hunter Lab顏色空間，Munsell顏色空間，反射率和透射率曲線，色度，K/S(染色深度)，XYZ刺激值，光密度

　　11.度量指標：不透明度，ISO A11沾色牢度及變色牢度，反射率，Pass/Fail(符合/不符合)，明度，白度，CIE色調(diào)，黃度

　　12.色差指標：Pass/Fail(符合/不符合)，色差值，殘余色差，色強度，公差

　　13.顯色光源：D65，A，F(xiàn)11，D50，F(xiàn)02，F(xiàn)07等

　　14.顯色指數(shù)：Ra>97

　　15.支持的操作系統(tǒng)：Windows 7，Windows 10，Windows11(32和64位)

　　16.測量范圍：350mm*300mm

　　17.軟件語言：中英文

　　18.尺寸：873*815*810 mm(W*H*D)

　　19.重量：95kg

　核心優(yōu)勢

　非接觸測量

　測試探頭無需直接接觸紡織品表面，避免對柔軟、易變形或表面不平整的樣品造成損害，同時防止交叉污染，尤其適用于液體、粉末、醬狀物等特殊樣品。

　適配腐蝕性、易污染或高價值紡織品（如絲綢、羊絨）的測量需求。

　高精度與快速性

　采用光學技術（如凹面光柵分光），實現(xiàn)高分辨率光譜采集，測量精度達ΔE*ab≤0.02（部分型號）。

　單次測量時間最快僅50毫秒，每日可完成超100萬個樣本檢測，滿足自動化生產(chǎn)線高效需求。

　多行業(yè)適用性

　覆蓋紡織品全產(chǎn)業(yè)鏈，包括面料色差檢測、紗線顏色匹配、印花圖案一致性驗證等。

　延伸至化妝品、食品、電子、醫(yī)藥等行業(yè)，如測量紡織包裝材料的顏色穩(wěn)定性。

   典型應用場景

　生產(chǎn)過程控制

　實時監(jiān)測：在紡織印染生產(chǎn)線上，非接觸式測量儀可集成到自動化系統(tǒng)中，實時反饋顏色數(shù)據(jù)，及時調(diào)整工藝參數(shù)。

　多機聯(lián)動：通過RS485通訊方式實現(xiàn)多臺儀器協(xié)同作業(yè)，提升檢測效率與精度。

　質(zhì)量檢驗與研發(fā)

　色差對比：支持CIELAB、CMC、CIEDE2000等工業(yè)標準公式，量化評估紡織品與標準樣品的色差。

　顏色管理：輸出CIE Lab*、XYZ刺激值、反射率曲線等參數(shù)，輔助研發(fā)人員優(yōu)化染料配方或印花工藝。

　特殊紡織品檢測

　熒光樣品測量：D/8結構儀器可捕捉紡織品中熒光添加劑的反射光譜，適用于功能性面料（如防紫外線織物）的質(zhì)量控制。

　微小樣品測量：配備Φ3mm-Φ11mm可切換測量口徑，滿足紡織品邊角料或瑕疵樣本的檢測需求。

　操作規(guī)范與維護

　操作規(guī)范

　樣品準備：確保紡織品表面平整，避免褶皺或異物干擾測量結果。

　距離校準：使用標準白板或黑筒進行黑白校正，嚴格控測試面與測量口徑的距離精度。

　環(huán)境控制：在0-40℃、0-85%RH（無凝露）環(huán)境下操作，避免強光直射或震動干擾。

　維護保養(yǎng)

　定期清潔：每次使用后清理儀器表面灰塵，防止光學部件污染。

　校準周期：建議每月進行一次計量性能檢定，確保測量數(shù)據(jù)準確性。

　部件更換：定期檢查光源壽命（如全光譜LED光源壽命≥5年），及時更換老化部件。

　技術原理與光路結構

　45/0光路結構

　原理：45°環(huán)形均勻照明，0°接收幾何光學結構，符合CIE標準。

　應用場景：適用于光滑表面紡織品的顏色測量，如印染面料、涂層織物。

　距離控制：測試面與測量口徑底面距離需精確至7.5±0.2mm，可通過自動或手動模式調(diào)整。

　D/8光路結構

　原理：漫射照明，8°方向接收（包含鏡面反射光），模擬人眼視覺感知。

　應用場景：適用于粗糙或含熒光成分的紡織品，如起絨織物、功能性面料。

　距離控制：測試面與測量口徑底面距離需精確至3.0±0.1mm，支持微小樣品測量。